硅胶产品标准一:一般标准
1.工作温度:-15℃—+80℃
2.贮存温度:-30℃—+85℃
3.贮存时间:
A.产品在无挤压情况下平放:可长期保贮。
B.产品在挤压情况下存放:1个月。
4.工作相对湿度:45℅—95℅。
5.工作气压:86-106Kpa 。
6.接触率:5MA在12VDC/0.5秒/2*107次。
7.接触反弹:<12毫秒。
8.绝缘电阻:>1012欧姆/500VDC。
9.击穿电压:>25KV/mm。
硅胶产品检验标准二:外观
1.颜色
(1)标准:硫化装配后硅胶不外露,无较大差异。
(2)检测方法:在明亮的自然光或40W日光灯下,将硅胶制品厂标准样品或色卡与待校样品放
在一起,经视力1.0以上,无色盲的专业人员在肉眼与样品间距为30cm的情况下目检5秒钟。
2.偏心
(1)标准: H厚–H薄 弹性壁厚度≤0.1MM时,模具检测时X=20℅;≤X 弹性壁厚度≤0.2MM时,模具检测时X=15℅
H厚+ H薄 弹性壁厚度≤0.3MM时,模具检测时X=8%
(2)检测方法:用厚度仪测试。
3.溢料
(1)标准:从键面向下单色料高≥露出外壳高度+1.0MM,装外壳后看不见为宜。
(2)检测方法:用游标卡尺测量。
4.毛边
(1) 标准:产品边缘:≤0.5MM 定位孔:≤0.1MM。
5.破裂
(1)标准:无影响装配与使用性能之处:≤1.0MM。
(2)检测方法:用游标卡尺测量。
6.色点凹凸点
(1) 标准:客户装配后硅胶外露部分:无明显可见。
检测方法:在明亮的自然光或40瓦日光灯照射下,将样品放于距肉眼30CM左右处经视力1.0以上人员目测5秒钟
7.以上字符偏移
(1)标准:中心值±0.15MM。
(2)检测方法:用工具显微镜测量。
硅胶产品检验标准三:物理性能
1.尺寸
L<10:L±0.05MM
10≤L<20:L±0.08MM
20≤L<30 :L±0.10MM
30≤L<50:L±0.15MM
50≤L<100:L±0.3℅LMM
100≤L:L±0.5℅LMM
(2)检测方法:用投影仪测量
2.弹力
(1)标准:
A.峰值P1
标准值:50±(5-10)g
70±(10-15)g
90±(15-20)g
100±(15-20)g
120±(20-25)g
150±(20-25)g
170±(25-30)g
200-300g±35g
b.最小回弹P3
P1≤50G时:P3≥20G
50G<P1≤120G时:P3≥25G
120G<P1≤180G时:P3≥30G
180G<P1≤250G时:P3≥40G
250G<P1时:P3≥50G
c.感觉:20℅-80℅
d.离散性
P1中心值≤150g时,同片产品之同种键型:≤15℅不同片产品之同种键型:≤20℅
P1中心值≥150g时,同片产品之同种键型:≤20℅不同片产品之同种键型:≤25℅
(2) 测试方法:用AIKOH MODEL
1305弹力测量仪测出弹力随冲程的变化曲线图读取其峰值P1,接触弹力P2,最小回弹P3.计算其:感觉=(P1-P2)/P1*100℅离散性=((P1峰值)-P1(最小峰值))/P1(峰值)*100℅
3.接触电阻
(1) 标准:
a.黑粒导电:≤100欧姆
b.移印导电:≤250欧姆
c.丝印导电:≤500欧姆
(2) 测试方法:用压力为250g压力使产品键之导电基压在间隔为0.5MM的单缝半月形镀金板上.待万用表显示值基本稳定后,读取其显示值。
5.寿命
a.弹性壁寿命
(1)标准:≥50万次
(2)测试方法:在AIKOH硅胶寿命测试仪的打击速率为2-5次/秒的情况下,设置打击平台的打击接触行程为产品冲程+[0.1-0.2]mm,经10万次打击后,弹性壁不得开裂破损,可回弹且提失≤30%,当客户无要求时均按50万次进行测试。
b.印刷导电寿命
(1) 标准:≥2,000,00次
(2)
测试方法:在AIKOH硅胶寿命测试仪的打击速率为2-5次/秒的情况下,设置打击平台的打击接触行程为产品冲程+[0.1-0.2]mm,经20万次打击后,导电物质不得从导电基上脱落且其接触电阻在规格内。
c.印刷字体寿命
(1) 标准:≥100圈
(2)
测试方法:将字符单键安装于PK-3-4字体寿命仪上,使键高出0.5-1.0MM,在加上500G的压力转动摩擦,字体不断开,当客户无明确要求时可采用目视厚度方法进行寿命控制。
d.PU寿命
⑴ 标准:≥RCA 50圈
⑵
测试方法:将测试KEY安装于RCA摩擦仪上露了高度0.5-1mm,压力为175g情况下字体出现损伤时寿命即为PU寿命.客户无要求时,PU寿命按此标准。
硅胶产品检验标准四:化学性能(只限录音电话机的硅胶按键)
1.加热失重率
(1)标准: a.≤0.2%(经200℃/4HRS加热失重后)
b.≤1.0%(经200℃/24HRS加热失重后)
(2)测试方法:将产品放于干燥箱内30分钟,然后取出,用分析天平称取测试前产品的片重,W1将产品放入温度为200+/-5℃的烘箱内烘烤4小时或24小时,然后将产品拿出放入干燥箱内放置30分钟后用分析天平称取其重量W2,计算(W1-W2)/W1*100℅之值。
2.抽提失重率
(1)标准:≤3.5%
(3)测试方法:选取一些有代表性的键,剪取约0.5g样品,再将其剪成0.005-0.01g的小粒,用分析天平称其准确总重为W1,将样品放抽提器内并加入异炳醇(IPA)进行提2小时,然后取出样品再放入温度为100℃的烘箱内烘烤半小时,取出后放入干燥箱内冷却半小时称其准确总重W2,计算(W1-W2)/W1*100℅之值。
3.低分子含量
(1)标准: D3-D10≤300PPM
测试方法:选取有代表性的键1.00+/-0.002g样品,将其剪成约为2mm的小颗粒,放入小瓶内,再将20ML
CCL4溶液注入小瓶中,加入20UL的内标物(CH3(CH2 9CH3)摇匀存放16-24HRS,用色谱分析仪测量其D3-D10的量。
硅胶产品执行标准
GB/T 27570-2011室温硫化甲基硅橡胶
GB/T 28610-2012甲基乙烯基硅橡胶
硅胶产品相关其他执行标准:
GB 9007-1988 粗孔球形硅胶
HG 2322-1992 工业金属钠
HG 2322-2004 工业金属钠
HG/T 2325-1992 电子工业用粒状一氧化铅
HG/T 2325-2004 电子工业用粒状一氧化铅
HG/T 2354-1992 薄层层析硅胶
HG/T 2354-2010 层析硅胶
HG/T 2521-1993 工业硅溶胶
HG/T 2521-2008 工业硅溶胶
HG/T 2525-1993 橡胶用不溶性硫磺