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 HUBEI BEIZHITE SILICA GEL PRODUCTS CO., LTD.

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硅胶产品的各项标准
来源:贝智特液态硅胶制品厂 | 作者:hbbztzp | 发布时间: 2319天前 | 14621 次浏览 | 分享到:
硅胶产品标准一:一般标准1.工作温度:-15℃—+80℃2.贮存温度:-30℃—+85℃3.贮存时间:A.产品在无挤压情况下平放:可长期保贮。B.产品在挤压情况下存放:1个月。

  硅胶产品标准一:一般标准

  1.工作温度:-15℃—+80℃

  2.贮存温度:-30℃—+85℃

  3.贮存时间:

  A.产品在无挤压情况下平放:可长期保贮。

  B.产品在挤压情况下存放:1个月。

  4.工作相对湿度:45℅—95℅。

  5.工作气压:86-106Kpa 。

  6.接触率:5MA在12VDC/0.5秒/2*107次。

  7.接触反弹:<12毫秒。

  8.绝缘电阻:>1012欧姆/500VDC。

  9.击穿电压:>25KV/mm。


  硅胶产品检验标准二:外观

  1.颜色

  (1)标准:硫化装配后硅胶不外露,无较大差异。

  (2)检测方法:在明亮的自然光或40W日光灯下,将硅胶制品厂标准样品或色卡与待校样品放 在一起,经视力1.0以上,无色盲的专业人员在肉眼与样品间距为30cm的情况下目检5秒钟。

  2.偏心

  (1)标准: H厚–H薄 弹性壁厚度≤0.1MM时,模具检测时X=20℅;≤X 弹性壁厚度≤0.2MM时,模具检测时X=15℅

  H厚+ H薄 弹性壁厚度≤0.3MM时,模具检测时X=8%

  (2)检测方法:用厚度仪测试。

  3.溢料

  (1)标准:从键面向下单色料高≥露出外壳高度+1.0MM,装外壳后看不见为宜。

  (2)检测方法:用游标卡尺测量。

  4.毛边

  (1) 标准:产品边缘:≤0.5MM 定位孔:≤0.1MM。

  5.破裂

  (1)标准:无影响装配与使用性能之处:≤1.0MM。

  (2)检测方法:用游标卡尺测量。

  6.色点凹凸点

  (1) 标准:客户装配后硅胶外露部分:无明显可见。

  检测方法:在明亮的自然光或40瓦日光灯照射下,将样品放于距肉眼30CM左右处经视力1.0以上人员目测5秒钟

  7.以上字符偏移

  (1)标准:中心值±0.15MM。

  (2)检测方法:用工具显微镜测量。


  硅胶产品检验标准三:物理性能

  1.尺寸

  L<10:L±0.05MM

  10≤L<20:L±0.08MM

  20≤L<30 :L±0.10MM

  30≤L<50:L±0.15MM

  50≤L<100:L±0.3℅LMM

  100≤L:L±0.5℅LMM

  (2)检测方法:用投影仪测量

  2.弹力

  (1)标准:

  A.峰值P1

  标准值:50±(5-10)g

  70±(10-15)g

  90±(15-20)g

  100±(15-20)g

  120±(20-25)g

  150±(20-25)g

  170±(25-30)g

  200-300g±35g

  b.最小回弹P3

  P1≤50G时:P3≥20G

  50G<P1≤120G时:P3≥25G

  120G<P1≤180G时:P3≥30G

  180G<P1≤250G时:P3≥40G

  250G<P1时:P3≥50G

  c.感觉:20℅-80℅

  d.离散性

  P1中心值≤150g时,同片产品之同种键型:≤15℅不同片产品之同种键型:≤20℅

  P1中心值≥150g时,同片产品之同种键型:≤20℅不同片产品之同种键型:≤25℅

  (2) 测试方法:用AIKOH MODEL 1305弹力测量仪测出弹力随冲程的变化曲线图读取其峰值P1,接触弹力P2,最小回弹P3.计算其:感觉=(P1-P2)/P1*100℅离散性=((P1峰值)-P1(最小峰值))/P1(峰值)*100℅


  3.接触电阻

  (1) 标准:

  a.黑粒导电:≤100欧姆

  b.移印导电:≤250欧姆

  c.丝印导电:≤500欧姆

  (2) 测试方法:用压力为250g压力使产品键之导电基压在间隔为0.5MM的单缝半月形镀金板上.待万用表显示值基本稳定后,读取其显示值。

  5.寿命

  a.弹性壁寿命

  (1)标准:≥50万次

  (2)测试方法:在AIKOH硅胶寿命测试仪的打击速率为2-5次/秒的情况下,设置打击平台的打击接触行程为产品冲程+[0.1-0.2]mm,经10万次打击后,弹性壁不得开裂破损,可回弹且提失≤30%,当客户无要求时均按50万次进行测试。

  b.印刷导电寿命

  (1) 标准:≥2,000,00次

  (2) 测试方法:在AIKOH硅胶寿命测试仪的打击速率为2-5次/秒的情况下,设置打击平台的打击接触行程为产品冲程+[0.1-0.2]mm,经20万次打击后,导电物质不得从导电基上脱落且其接触电阻在规格内。

  c.印刷字体寿命

  (1) 标准:≥100圈

  (2) 测试方法:将字符单键安装于PK-3-4字体寿命仪上,使键高出0.5-1.0MM,在加上500G的压力转动摩擦,字体不断开,当客户无明确要求时可采用目视厚度方法进行寿命控制。

  d.PU寿命

  ⑴ 标准:≥RCA 50圈

  ⑵ 测试方法:将测试KEY安装于RCA摩擦仪上露了高度0.5-1mm,压力为175g情况下字体出现损伤时寿命即为PU寿命.客户无要求时,PU寿命按此标准。

  硅胶产品检验标准四:化学性能(只限录音电话机的硅胶按键)

  1.加热失重率

  (1)标准: a.≤0.2%(经200℃/4HRS加热失重后)

  b.≤1.0%(经200℃/24HRS加热失重后)

  (2)测试方法:将产品放于干燥箱内30分钟,然后取出,用分析天平称取测试前产品的片重,W1将产品放入温度为200+/-5℃的烘箱内烘烤4小时或24小时,然后将产品拿出放入干燥箱内放置30分钟后用分析天平称取其重量W2,计算(W1-W2)/W1*100℅之值。

  2.抽提失重率

  (1)标准:≤3.5%

  (3)测试方法:选取一些有代表性的键,剪取约0.5g样品,再将其剪成0.005-0.01g的小粒,用分析天平称其准确总重为W1,将样品放抽提器内并加入异炳醇(IPA)进行提2小时,然后取出样品再放入温度为100℃的烘箱内烘烤半小时,取出后放入干燥箱内冷却半小时称其准确总重W2,计算(W1-W2)/W1*100℅之值。

  3.低分子含量

  (1)标准: D3-D10≤300PPM

  测试方法:选取有代表性的键1.00+/-0.002g样品,将其剪成约为2mm的小颗粒,放入小瓶内,再将20ML CCL4溶液注入小瓶中,加入20UL的内标物(CH3(CH2 9CH3)摇匀存放16-24HRS,用色谱分析仪测量其D3-D10的量。

  硅胶产品执行标准

  GB/T 27570-2011室温硫化甲基硅橡胶

  GB/T 28610-2012甲基乙烯基硅橡胶

  硅胶产品相关其他执行标准:

  GB 9007-1988 粗孔球形硅胶

  HG 2322-1992 工业金属钠

  HG 2322-2004 工业金属钠

  HG/T 2325-1992 电子工业用粒状一氧化铅

  HG/T 2325-2004 电子工业用粒状一氧化铅

  HG/T 2354-1992 薄层层析硅胶

  HG/T 2354-2010 层析硅胶

  HG/T 2521-1993 工业硅溶胶

  HG/T 2521-2008 工业硅溶胶

  HG/T 2525-1993 橡胶用不溶性硫磺